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日本TET靜電ESD測試儀$n該系列測試機臺陣容有：$n●7000B-E（專用于ESD試驗）$n●7000B-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）
更新時間：2026-05-19
產(chǎn)品型號：7000B-E/B-L/B-EL
瀏覽量：2029
日本HBM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試?？蓱糜谄骷_發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。
更新時間：2026-05-19產(chǎn)品型號：瀏覽量：3612日本半導體MM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試?？蓱糜谄骷_發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。
更新時間：2026-05-19產(chǎn)品型號：瀏覽量：3503日本半導體HBM測試儀本產(chǎn)品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試?？蓱糜谄骷_發(fā)評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環(huán)境評價等各種試驗用途。
更新時間：2026-05-19產(chǎn)品型號：瀏覽量：4498
日本TET半導體靜電測試儀陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗專用型號） ●1100-CDM （CDM試驗專用型號） ●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）
更新時間：2026-05-19產(chǎn)品型號：1100-ESD/CDM/LUP瀏覽量：1939
日本半導體閂鎖測試儀$n系列測試機臺陣容有：$n●7000X-E（專用于ESD試驗）$n●7000X-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000X-EL（用于ESD/閂鎖試驗）
更新時間：2026-05-19產(chǎn)品型號：7000X-E/X-L/X-EL瀏覽量：1432公司郵箱： jfyp@tu-zhe.cn
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