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EMC測(cè)試儀器
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ESD測(cè)試機(jī)臺(tái)/1200系列本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試??蓱?yīng)用于器件開(kāi)發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):
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ESD/閂鎖試驗(yàn)機(jī)臺(tái) 7000X系列$n系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:$n●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))$n●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))$n●7000X-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn))
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):7000X-E/X-L/X-EL
瀏覽量:1388
ESD/閂鎖試驗(yàn)機(jī)臺(tái) 7000B系列 該系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有: ●7000B-E(專用于ESD試驗(yàn)) ●7000B-L(專用于閂鎖試驗(yàn)) ●7000B-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn))
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):7000B-E/B-L/B-EL
瀏覽量:1299
日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào)) ●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號(hào)) ●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)專用型號(hào))
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):1100-ESD/CDM/LUP
瀏覽量:3468
TET東京電子株式會(huì)社 ESD微型器件兼容性測(cè)試機(jī)臺(tái) EMD-625E: 本測(cè)試設(shè)備兼容被測(cè)器件的各種尺寸,特別是可以支持極小間距的器件,且方便排列器件進(jìn)行測(cè)試??蛇x擇進(jìn)行手動(dòng)操作和半自動(dòng)測(cè)試,在施加靜電后,可支持DC測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):EMD-625E
瀏覽量:2189
此款設(shè)備是模擬類似開(kāi)關(guān)元件觸點(diǎn)之間的放電,電子馬達(dá)產(chǎn)生的電弧放電等,上升時(shí)間很快,高頻率的噪聲,來(lái)評(píng)價(jià)電子設(shè)備的抗干擾能力的測(cè)試設(shè)備。 因?yàn)榘瑴y(cè)試脈沖中的頻率成分的脈沖寬度很寬,另外通過(guò)改變脈沖的寬度,也可以改變脈沖能量的強(qiáng)度,能實(shí)現(xiàn)市場(chǎng)上對(duì)于噪聲問(wèn)題的再現(xiàn)性很高的噪聲測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-05-19
產(chǎn)品型號(hào):INS-S220/INS-S420
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